單項(xiàng)選擇題下列材料中電阻率最低的是()。
A.鋁
B.銅
C.多晶硅
D.金
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1.多項(xiàng)選擇題在半導(dǎo)體工藝中,與氮化硅比較,二氧化硅更適合應(yīng)用在()。
A.晶圓頂層的保護(hù)層
B.多層金屬的介質(zhì)層
C.多晶硅與金屬之間的絕緣層
D.摻雜阻擋層
E.晶圓片上器件之間的隔離
2.多項(xiàng)選擇題在半導(dǎo)體工藝中,如果淀積的薄膜不是連續(xù)的,存在一些空隙,則()。
A.使薄膜的介電常數(shù)變大
B.可能引入雜質(zhì)
C.可能使薄膜層間短路
D.使薄膜介電常數(shù)變小
E.可能使薄膜厚度增加
3.多項(xiàng)選擇題在半導(dǎo)體工藝中,淀積的薄膜層應(yīng)滿足的參數(shù)包含有()。
A.均勻性
B.表面平整度
C.自由應(yīng)力
D.純凈度
E.電容
4.單項(xiàng)選擇題為了防止抽氣設(shè)備對離子注入系統(tǒng)的油污染,可在靶室前增加一個()或采用無油泵。
A.液氮冷阱
B.凈化阱
C.抽氣阱
D.無氣泵
5.單項(xiàng)選擇題離子源的基本結(jié)構(gòu)是由產(chǎn)生高密度等離子體的()和引出部分組成。
A.電極
B.分析器
C.加速器
D.腔體
最新試題
刻蝕氮化硅薄膜時,可以用加熱的磷酸進(jìn)行刻蝕,此時的溫度一般設(shè)置在()
題型:單項(xiàng)選擇題
回態(tài)源擴(kuò)散的雜質(zhì)源有()
題型:多項(xiàng)選擇題
環(huán)境溫度的變化可影響硅片的涂膠均勻性,通常將環(huán)境溫度設(shè)定于()。
題型:單項(xiàng)選擇題
通過分析刻蝕前后刻蝕腔內(nèi)的成分來判斷是否達(dá)到終點(diǎn)的終點(diǎn)檢測方法是()
題型:單項(xiàng)選擇題
在離子注入完成后,檢驗(yàn)到硅片表面有顆粒污染嚴(yán)重的情況,該情況引起的主要問題有()
題型:多項(xiàng)選擇題
假設(shè)光刻膠的厚度是2000埃,二氧化硅的厚度為4000塊,如果要求經(jīng)過30秒的刻蝕后,厚度變?yōu)?400埃,那么這個過程中刻蝕速率是()埃/分鐘。
題型:單項(xiàng)選擇題
敘述測試晶體管的方法?
題型:問答題
傳統(tǒng)的平坦化技術(shù)有()
題型:多項(xiàng)選擇題
最常用的砷化鎵的濕法刻蝕腐蝕液包括()
題型:多項(xiàng)選擇題
下列可能造成離子源沾污的因素是()
題型:多項(xiàng)選擇題