A.晶振
B.電容
C.電感
D.PN結(jié)
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.埋層
B.外延
C.PN結(jié)
D.擴(kuò)散電阻
E.隔離區(qū)
A.內(nèi)部的雜質(zhì)分布
B.表面的雜質(zhì)分布
C.整個(gè)晶體的雜質(zhì)分布
D.內(nèi)部的導(dǎo)電類型
E.表面的導(dǎo)電類型
A.比色法
B.雙光干涉法
C.橢圓偏振光法
D.腐蝕法
E.電容-電壓法
A.薄膜表面無(wú)斑點(diǎn)
B.薄膜中的帶電離子含量符合要求
C.薄膜表面無(wú)針孔
D.薄膜的厚度達(dá)到規(guī)定指標(biāo)
E.薄膜厚度均勻,結(jié)構(gòu)致密
A.加強(qiáng)工藝操作
B.加強(qiáng)人體和環(huán)境衛(wèi)生
C.使用高純化學(xué)試劑、高純水和超凈設(shè)備
D.采用HCl氧化工藝
E.硅片清洗后,要充分烘干,表面無(wú)水跡
最新試題
當(dāng)需要刻蝕的圖形尺寸大于3um時(shí),一般使用()。
在離子注入完成后,檢驗(yàn)到硅片表面有顆粒污染嚴(yán)重的情況,該情況引起的主要問(wèn)題有()
刻蝕的過(guò)程中,對(duì)刻蝕的要求是()
根據(jù)曝光模式,光制機(jī)的種類分為()。
調(diào)試和維修電路時(shí)排除故障的一般程序和方法是怎樣的?
堅(jiān)膜烘焙在加熱平板上進(jìn)行,溫度控制在()。
分結(jié)深是重要的結(jié)構(gòu)參數(shù),在檢驗(yàn)時(shí)發(fā)現(xiàn)超淺結(jié)注入時(shí),判斷其造成原因有()
光刻膠對(duì)人部分可見(jiàn)光敏感,但對(duì)()光不敏感。
以下是離子注入過(guò)程中的主要參數(shù)的是()
環(huán)境溫度的變化可影響硅片的涂膠均勻性,通常將環(huán)境溫度設(shè)定于()。