A.薄膜表面無斑點(diǎn)
B.薄膜中的帶電離子含量符合要求
C.薄膜表面無針孔
D.薄膜的厚度達(dá)到規(guī)定指標(biāo)
E.薄膜厚度均勻,結(jié)構(gòu)致密
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A.加強(qiáng)工藝操作
B.加強(qiáng)人體和環(huán)境衛(wèi)生
C.使用高純化學(xué)試劑、高純水和超凈設(shè)備
D.采用HCl氧化工藝
E.硅片清洗后,要充分烘干,表面無水跡
A.玻璃器皿
B.高溫器材
C.人體沾污
D.化學(xué)試劑
E.去離子水
A.替位式
B.間隙式
C.施主
D.可能是替位式也可能是間隙式
A.鈉
B.鉀
C.氫
D.硼
A.降低
B.增加
C.不變
D.先降低后增加
最新試題
光刻膠對(duì)人部分可見光敏感,但對(duì)()光不敏感。
通過分析刻蝕前后刻蝕腔內(nèi)的成分來判斷是否達(dá)到終點(diǎn)的終點(diǎn)檢測(cè)方法是()
當(dāng)需要刻蝕的圖形尺寸大于3um時(shí),一般使用()。
兼具有各向異性刻蝕的優(yōu)點(diǎn),又有可接受的選擇比的刻蝕方法是()。
傳統(tǒng)的平坦化技術(shù)有()
利用高溫驅(qū)動(dòng)雜質(zhì)滲透進(jìn)半導(dǎo)體內(nèi),此工序采用的設(shè)備是()
電子束蒸發(fā)中有一個(gè)特殊的部件是()
以下是離子注入過程中的主要參數(shù)的是()
分結(jié)深是重要的結(jié)構(gòu)參數(shù),在檢驗(yàn)時(shí)發(fā)現(xiàn)超淺結(jié)注入時(shí),判斷其造成原因有()
根據(jù)曝光模式,光制機(jī)的種類分為()。