單項選擇題銅與氯形成的化合物揮發(fā)能力不好,因而銅的刻蝕無法以化學(xué)反應(yīng)來進行,而必須施以()。
A.等離子體刻蝕
B.反應(yīng)離子刻蝕
C.濕法刻蝕
D.濺射刻蝕
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1.單項選擇題濺鍍法,因為其階梯覆蓋的能力不良,很容易造成因填縫不完全所留下的()。
A.鳥嘴
B.空洞
C.裂痕
D.位錯
2.單項選擇題不可以對SiO2進行干法刻蝕所使用的氣體是()。
A.CHF3
B.C2F6
C.C3F8
D.HF
3.單項選擇題大硅片上生長的()的不均勻和各個部位刻蝕速率的不均勻會導(dǎo)致刻蝕圖形轉(zhuǎn)移的不均勻性。
A.薄膜厚度
B.圖形寬度
C.圖形長度
D.圖形間隔
4.單項選擇題刻蝕要求在整個晶圓上有一個均勻的刻蝕速率,()是在晶圓上由測量刻蝕過程前后特定點的厚度,并計算這些點的刻蝕速率而得到的。
A.選擇性
B.均勻性
C.輪廓
D.刻蝕圖案
5.多項選擇題通常情況下,我們改變工藝條件使刻蝕進行中()的刻蝕速率盡量低。
A.光刻膠
B.襯底
C.表面硅層
D.擴散區(qū)
E.源漏區(qū)
最新試題
在顯影過程中,對于正性抗蝕劑,顯影液的使用要求是()。
題型:單項選擇題
通常鉭、鈷、鎳等難溶金屬應(yīng)用于()
題型:單項選擇題
()可以通過帶電粒子在盛場作用下做運動把粒子進行篩選,挑選出唯一需要注入的離子。
題型:單項選擇題
金屬薄膜制備中常見的濺射方式有()
題型:多項選擇題
通過分析刻蝕前后刻蝕腔內(nèi)的成分來判斷是否達到終點的終點檢測方法是()
題型:單項選擇題
在離子注入完成后,檢驗到硅片表面有顆粒污染嚴(yán)重的情況,該情況引起的主要問題有()
題型:多項選擇題
最常用的砷化橡的濕法刻蝕腐蝕液包括()
題型:多項選擇題
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利用高溫驅(qū)動雜質(zhì)滲透進半導(dǎo)體內(nèi),此工序采用的設(shè)備是()
題型:單項選擇題