A.銅的電阻率比鋁小
B.鋁的熔點(diǎn)較高
C.鋁的抗電遷移能力較弱
D.銅與硅的接觸電阻較小
E.銅可以在低溫下淀積
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A.電阻低
B.抗電遷移特性好
C.對(duì)硅氧化物有很好的黏合性
D.有很高的純度
E.易于光刻
A.鋁
B.銅
C.多晶硅
D.金
A.晶圓頂層的保護(hù)層
B.多層金屬的介質(zhì)層
C.多晶硅與金屬之間的絕緣層
D.摻雜阻擋層
E.晶圓片上器件之間的隔離
A.使薄膜的介電常數(shù)變大
B.可能引入雜質(zhì)
C.可能使薄膜層間短路
D.使薄膜介電常數(shù)變小
E.可能使薄膜厚度增加
A.均勻性
B.表面平整度
C.自由應(yīng)力
D.純凈度
E.電容
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