制造和封裝工藝過程中的材料性能是決定材料應(yīng)用的關(guān)鍵，制造性能主要包括（）。

下面選項中硅片減薄技術(shù)正確的是（）。

鍵合工藝失效，焊盤產(chǎn)生彈坑的原因有（）。

塑封料的機械性能包括的模量有（）。

鍵合點根部容易發(fā)生微裂紋，原因可能是鍵合操作中機械疲勞，也可能是溫度循環(huán)導(dǎo)致熱應(yīng)力疲勞。

引線鍵合的目的是將金線鍵合在晶片、框架或基板上。

以下不屬于打碼目的的是（）。

使用3D封裝技術(shù)可以實現(xiàn)40～50倍的成品尺寸和重量的減少。

關(guān)于電子封裝基片的性質(zhì)，說法錯誤的是（）。

因為QFP封裝的可靠性高，且其封裝外形尺寸較小，寄生參數(shù)減小，故多用于高頻電路、音頻電路、微處理器、電源電路。