多項選擇題以下描述與可測性設(shè)計的設(shè)計制約相關(guān)，哪些是正確的（）。

A.禁止使用循環(huán)組合電路
B.FF的時鐘信號必須能夠從外部端口直接控制
C.FF的復(fù)位信號必須能夠從外部端口直接控制
D.掃描測試時，RAM和內(nèi)核需要分開進(jìn)行設(shè)計


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1.多項選擇題以下關(guān)于可測性設(shè)計的描述中，哪些是正確的（）。

A.可測性設(shè)計就是在設(shè)計階段考慮測試因素，犧牲一部分芯片面積換得測試的容易化
B.可測性設(shè)計使用自動生成工具（ATPG），易于生成故障覆蓋率高的測試模式
C.可測性設(shè)計由于增加了設(shè)計負(fù)荷，將一定導(dǎo)致芯片整體開發(fā)成本的增加
D.可觀察性與可控制性是衡量可測性設(shè)計的兩個尺度

2.多項選擇題以下問題描述中，哪些有可能通過可測性設(shè)計發(fā)現(xiàn)（）。

A.制造誤差
B.性能問題
C.制造故障
D.功能未滿足顧客的需求

3.多項選擇題以下關(guān)于邏輯綜合的描述，哪些是正確的（）。

A.邏輯綜合的結(jié)果是唯一的
B.邏輯綜合技術(shù)可分為生成順序電路和生成組合電路兩類
C.布爾邏輯公式的簡化一般與制造工藝無關(guān)
D.同一邏輯可以由多種電路實現(xiàn)，邏輯綜合則選擇與面積、延遲時間、功耗等要求最接近的電路

4.單項選擇題以下描述比較不同抽象度設(shè)計的仿真速度，哪些是正確的（）。

A.算法級>門級>RTL級
B.RTL級>門級>算法級
C.門級>算法級>RTL級
D.算法級>RTL級>門級

5.多項選擇題以下關(guān)于設(shè)計抽象度的描述中，哪些是正確的（）。

A.算法級描述決定系統(tǒng)的實施方式（體系結(jié)構(gòu)、算法）
B.門級描述是基于基本元件（AND/OR/NOT/FF等）的電路設(shè)計
C.門級描述決定硬件的處理方式（數(shù)據(jù)電路與控制電路）
D.RTL描述包括時鐘級的時序設(shè)計