多項選擇題

以下關(guān)于可測性設(shè)計的描述中，哪些是正確的（）。

A.可測性設(shè)計就是在設(shè)計階段考慮測試因素，犧牲一部分芯片面積換得測試的容易化
B.可測性設(shè)計使用自動生成工具（ATPG），易于生成故障覆蓋率高的測試模式
C.可測性設(shè)計由于增加了設(shè)計負荷，將一定導(dǎo)致芯片整體開發(fā)成本的增加
D.可觀察性與可控制性是衡量可測性設(shè)計的兩個尺度

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多項選擇題

以下問題描述中，哪些有可能通過可測性設(shè)計發(fā)現(xiàn)（）。

A.制造誤差
B.性能問題
C.制造故障
D.功能未滿足顧客的需求

多項選擇題

以下關(guān)于邏輯綜合的描述，哪些是正確的（）。

A.邏輯綜合的結(jié)果是唯一的
B.邏輯綜合技術(shù)可分為生成順序電路和生成組合電路兩類
C.布爾邏輯公式的簡化一般與制造工藝無關(guān)
D.同一邏輯可以由多種電路實現(xiàn)，邏輯綜合則選擇與面積、延遲時間、功耗等要求最接近的電路

以下關(guān)于可測性設(shè)計的描述中，哪些是正確的（）。

你可能感興趣的試題

以下問題描述中，哪些有可能通過可測性設(shè)計發(fā)現(xiàn)（）。

以下關(guān)于邏輯綜合的描述，哪些是正確的（）。

以下關(guān)于可測性設(shè)計的描述中，哪些是正確的（）。

以下問題描述中，哪些有可能通過可測性設(shè)計發(fā)現(xiàn)（）。

以下關(guān)于邏輯綜合的描述，哪些是正確的（）。