1、晶圓進入 2、溫度急升 3、溫度趨穩(wěn) 4、退火 5、晶圓冷卻 6、晶圓退出
1、時間與溫度,恒定表面源主要是時間。 2、硅晶體中存在其他類型的點缺陷
1、原生氧化層 2、屏蔽氧化層 3、遮蔽氧化層 4、場區(qū)和局部氧化層 5、襯墊氧化層 6、犧牲氧化層 7、柵極氧化層 8、阻擋氧化層
最新試題
CMP的設備構成包括()。
濕氧氧化采用的氧化水溫是()。
摻雜后,退火的目的是()。
光刻工藝的設備核心是()。
硅烷法制備高純硅的步驟不包括哪一項?()
多層陶瓷基板多層化的方法包括()。
當許多損傷區(qū)連在一起時就會形成連續(xù)的非晶層,開始形成連續(xù)非晶層的注入劑量稱為()。
IC集成度和性能得以不斷提高的理論基礎是()。
刻蝕過程中聚合物形成的來源有()。
硅暴露在空氣中,在室溫下即可產生二氧化硅層,厚度約為()。