一缺陷主平面垂直于試件A面且位于試件中部,如圖所示,如果只能從試件B面探測(cè)的話,采用下列哪種技術(shù)比較合適?()
A.直射聲束單探頭
B. 斜射聲束單探頭
C.直射聲束雙探頭
D.斜射聲束雙探頭
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一缺陷主平面垂直于試件A面且位于試件中部,如圖所示,如果只能從試件A面探測(cè)的話,采用下列哪種技術(shù)最為合適()
A.直射聲束單探頭
B.斜射聲束單探頭
C.直射聲束雙探頭
D.斜射聲束雙探頭
圖是幾種收-發(fā)雙探頭檢測(cè)方法,如果圖中探頭的位置固定,則當(dāng)沒(méi)有缺陷F時(shí),哪種排列方式的探頭可以接收到回波()
A.圖中a
B.圖中b
C.圖中c
D.都不可以
圖是正常情況下帶延遲塊探頭直射聲束檢測(cè)波形圖,哪個(gè)描述是較為正確的()
A.回波1為一次界面波,回波2為二次界面波
B.回波1為一次界面波,回波2為一次底波
C.回波1為始脈沖波,回波2為一次底波
D.回波1為始脈沖波,回波2為一次界面波
圖A是斜入射橫波檢測(cè)示意圖;如果斜探頭1位置是圖A右圖形的話,斜探頭2位置處的波形圖應(yīng)是圖B中的哪個(gè)()
A.A
B.B
C.C
D.D
當(dāng)采用直射脈沖反射法檢測(cè)時(shí),在圖中,哪個(gè)是較典型的有缺陷的顯示()
A.A
B.B
C.C
D.不能確定
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移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭,缺陷回波高度降低一半時(shí),探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn),兩端點(diǎn)之間的直線長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱為()。
()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測(cè)出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來(lái)確定。
縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí),在第一次底波之后,還有2個(gè)特定位置的反射波,這種波是()。
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí),下面敘述中()是錯(cuò)誤的。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí),需要進(jìn)行傳輸修正。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè),儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來(lái)表征。
()可以對(duì)管路、管道進(jìn)行長(zhǎng)距離檢測(cè)。
調(diào)整檢測(cè)靈敏度的目的在于檢測(cè)出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對(duì)缺陷進(jìn)行()。