一缺陷主平面垂直于試件A面且位于試件中部，如圖所示，如果只能從試件A面探測的話，采用下列哪種技術(shù)最為合適（）
A.直射聲束單探頭
B.斜射聲束單探頭
C.直射聲束雙探頭
D.斜射聲束雙探頭
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圖是幾種收-發(fā)雙探頭檢測方法，如果圖中探頭的位置固定，則當(dāng)沒有缺陷F時(shí)，哪種排列方式的探頭可以接收到回波（）
A.圖中a
B.圖中b
C.圖中c
D.都不可以
圖是正常情況下帶延遲塊探頭直射聲束檢測波形圖，哪個(gè)描述是較為正確的（）
A.回波1為一次界面波，回波2為二次界面波
B.回波1為一次界面波，回波2為一次底波
C.回波1為始脈沖波，回波2為一次底波
D.回波1為始脈沖波，回波2為一次界面波
圖A是斜入射橫波檢測示意圖；如果斜探頭1位置是圖A右圖形的話，斜探頭2位置處的波形圖應(yīng)是圖B中的哪個(gè)（）
A.A
B.B
C.C
D.D
當(dāng)采用直射脈沖反射法檢測時(shí)，在圖中，哪個(gè)是較典型的有缺陷的顯示（）
A.A
B.B
C.C
D.不能確定
當(dāng)采用透射法檢測時(shí)，在圖中，哪個(gè)是較典型的有缺陷的顯示（）
A.A
B.B
C.C
D.不能確定
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移動探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動探頭，缺陷回波高度降低一半時(shí)，探頭中心軸線所對應(yīng)的位置即為指示長度的端點(diǎn)，兩端點(diǎn)之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為（）。
底波計(jì)算法是利用（）與平底孔反射回波相差的分貝（dB）值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長工件上時(shí)，在底波之后出現(xiàn)一系列的波，這種波是（）。
調(diào)整檢測靈敏度的目的在于檢測出工件中規(guī)定大小的缺陷，并對缺陷進(jìn)行（）。
超聲檢測系統(tǒng)的靈敏度余量（）。
（）可以檢測出與探測面相垂直的面狀缺陷。
探頭延檢測面水平移動，超聲檢測系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為（）。
底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小，操作方便，適用于（）的工件。
超聲檢測對缺陷定位時(shí)，（）不是影響缺陷定位的主要因素。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí)，應(yīng)使（）同時(shí)對準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。