你可能感興趣的試題

單項選擇題
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的（）。
A.實際長度
B.指示長度
C.測量長度
D.相對長度
單項選擇題
（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
A.當量法
B.測長法
C.半波高度法
D.絕對靈敏度法
單項選擇題
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定，而缺陷的大小可由缺陷的面積或（）來表征。
A.當量
B.寬度
C.高度
D.長度
單項選擇題
當調(diào)節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時，需要進行傳輸修正。
A.密度
B.聲阻抗
C.晶粒度
D.表面粗糙度
單項選擇題
利用底波計算法校準靈敏度時，下面敘述中（）是錯誤的。
A.可不考慮檢測耦合差補償
B.適用于檢測的聲程小于等于3N
C.可不使用試塊
D.缺陷定量可采用計算法或AVG曲線法
單項選擇題
利用底波計算法進行靈敏度校準時，適用的工件厚度為（）。
A.x〈3N
B.x≥N
C.x≥2N
D.x≥3N
單項選擇題
底波計算法是利用（）與平底孔反射回波相差的分貝（dB）值進行靈敏度校準。
A.始波
B.界面回波
C.底面反射回波
D.缺陷反射回波
單項選擇題
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法，下面說法錯誤的是（）。
A.選擇與待檢工件尺寸相同或相近的試塊
B.將探頭對準試塊上的人工反射體，調(diào)節(jié)儀器使示波屏上人工缺陷的最高反射波達到基準波高
C.計算出人工反射體與所要求的靈敏度之間的回波分貝差Δ（dB）
D.將儀器靈敏度增益Δ（dB），并根據(jù)工件和試塊的材質(zhì)給予一定補償
單項選擇題
實際檢測中，為了提高掃查速度而又不引起漏檢，常將檢測靈敏度適當提高，這種在檢測靈敏度基礎上適當提高后的靈敏度叫做（）。
A.評定靈敏度
B.檢測靈敏度
C.掃查靈敏度
D.定量靈敏度
單項選擇題
檢測靈敏度太高和太低對檢測都不利。靈敏度太低，（）。
A.顯示屏上雜波多
B.干擾對缺陷的定量
C.干擾缺陷波的判別
D.容易引起漏檢

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移動探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動探頭，缺陷回波高度降低一半時，探頭中心軸線所對應的位置即為指示長度的端點，兩端點之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為（）。

你可能感興趣的試題

測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的（）。

（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。

缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定，而缺陷的大小可由缺陷的面積或（）來表征。

當調(diào)節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時，需要進行傳輸修正。

利用底波計算法校準靈敏度時，下面敘述中（）是錯誤的。

利用底波計算法進行靈敏度校準時，適用的工件厚度為（）。

底波計算法是利用（）與平底孔反射回波相差的分貝（dB）值進行靈敏度校準。

靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法，下面說法錯誤的是（）。

實際檢測中，為了提高掃查速度而又不引起漏檢，常將檢測靈敏度適當提高，這種在檢測靈敏度基礎上適當提高后的靈敏度叫做（）。

檢測靈敏度太高和太低對檢測都不利。靈敏度太低，（）。

移動探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動探頭，缺陷回波高度降低一半時，探頭中心軸線所對應的位置即為指示長度的端點，兩端點之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為（）。

你可能感興趣的試題

測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的（）。

（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。

缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定，而缺陷的大小可由缺陷的面積或（）來表征。

當調(diào)節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時，需要進行傳輸修正。

利用底波計算法校準靈敏度時，下面敘述中（）是錯誤的。

利用底波計算法進行靈敏度校準時，適用的工件厚度為（）。

底波計算法是利用（）與平底孔反射回波相差的分貝（dB）值進行靈敏度校準。

靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法，下面說法錯誤的是（）。

實際檢測中，為了提高掃查速度而又不引起漏檢，常將檢測靈敏度適當提高，這種在檢測靈敏度基礎上適當提高后的靈敏度叫做（）。

檢測靈敏度太高和太低對檢測都不利。靈敏度太低，（）。

移動探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動探頭，缺陷回波高度降低一半時，探頭中心軸線所對應的位置即為指示長度的端點，兩端點之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為（）。

測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的（）。

（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。

缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定，而缺陷的大小可由缺陷的面積或（）來表征。

當調(diào)節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時，需要進行傳輸修正。

利用底波計算法校準靈敏度時，下面敘述中（）是錯誤的。

利用底波計算法進行靈敏度校準時，適用的工件厚度為（）。

底波計算法是利用（）與平底孔反射回波相差的分貝（dB）值進行靈敏度校準。

靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法，下面說法錯誤的是（）。

實際檢測中，為了提高掃查速度而又不引起漏檢，常將檢測靈敏度適當提高，這種在檢測靈敏度基礎上適當提高后的靈敏度叫做（）。

檢測靈敏度太高和太低對檢測都不利。靈敏度太低，（）。