當(dāng)采用直射脈沖反射法檢測(cè)時(shí)，在圖中，哪個(gè)是較典型的有缺陷的顯示（）
A.A
B.B
C.C
D.不能確定
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
當(dāng)采用透射法檢測(cè)時(shí)，在圖中，哪個(gè)是較典型的有缺陷的顯示（）
A.A
B.B
C.C
D.不能確定
A.使始波寬度的影響落在延遲過(guò)程中
B.提高近表面缺陷的檢出能力
C.減少聲能損失
D.測(cè)量薄件的厚度
A.改善對(duì)小缺陷的檢測(cè)能力
B.改善粗糙表面的信噪比
C.改善相鄰缺陷的分辨力
D.以上都是
A.同一個(gè)缺陷的兩次回波
B.根據(jù)儀器性能確定
C.能檢出所有部位的缺陷
D.根據(jù)工藝要求確定
A.將缺陷最高回波規(guī)定為測(cè)定基準(zhǔn)
B.聲束沿中心軸線射至缺陷中心才能得到回波最大值
C.聲束垂直射至工件反射面上才能得到缺陷回波最大值
D.只有當(dāng)聲束被整個(gè)缺陷反射面覆蓋時(shí)才能得到回波最大值
最新試題
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí)，適用的工件厚度為（）。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法，下面說(shuō)法錯(cuò)誤的是（）。
底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小，操作方便，適用于（）的工件。
調(diào)整檢測(cè)靈敏度的目的在于檢測(cè)出工件中規(guī)定大小的缺陷，并對(duì)缺陷進(jìn)行（）。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長(zhǎng)工件上時(shí)，在底波之后出現(xiàn)一系列的波，這種波是（）。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn)，說(shuō)法錯(cuò)誤的是（）。
底波計(jì)算法是利用（）與平底孔反射回波相差的分貝（dB）值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
測(cè)長(zhǎng)法是根據(jù)測(cè)長(zhǎng)缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來(lái)確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度稱為缺陷的（）。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭，缺陷回波高度降低一半時(shí)，探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn)，兩端點(diǎn)之間的直線長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱為（）。
（）可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。