A.可不考慮檢測耦合差補償
B.適用于檢測的聲程小于等于3N
C.可不使用試塊
D.缺陷定量可采用計算法或AVG曲線法
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A.x〈3N
B.x≥N
C.x≥2N
D.x≥3N
A.始波
B.界面回波
C.底面反射回波
D.缺陷反射回波
A.選擇與待檢工件尺寸相同或相近的試塊
B.將探頭對準試塊上的人工反射體，調(diào)節(jié)儀器使示波屏上人工缺陷的最高反射波達到基準波高
C.計算出人工反射體與所要求的靈敏度之間的回波分貝差Δ（dB）
D.將儀器靈敏度增益Δ（dB），并根據(jù)工件和試塊的材質(zhì)給予一定補償
A.評定靈敏度
B.檢測靈敏度
C.掃查靈敏度
D.定量靈敏度
A.顯示屏上雜波多
B.干擾對缺陷的定量
C.干擾缺陷波的判別
D.容易引起漏檢
最新試題
當超聲波到達工件的臺階、螺紋等輪廓時將引起反射，這種波是（）。
縱波直探頭徑向檢測實心圓柱時，在第一次底波之后，還有2個特定位置的反射波，這種波是（）。
板波檢測可以發(fā)現(xiàn)（），其檢出靈敏度與儀器設備及波的形式有關(guān)。
用折射角β的斜探頭進行檢測，儀器顯示缺陷的聲程為S，則缺陷的水平距離l為（）。
在對缺陷進行定量前，必須先調(diào)節(jié)（）。
（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小，操作方便，適用于（）的工件。
移動探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動探頭，缺陷回波高度降低一半時，探頭中心軸線所對應的位置即為指示長度的端點，兩端點之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為（）。
用橫波斜探頭檢測，找到缺陷最大回波后，探頭所在截面及（）可以確定缺陷位置。
調(diào)整檢測靈敏度的目的在于檢測出工件中規(guī)定大小的缺陷，并對缺陷進行（）。