A. 激活雜質(zhì)后
B. 一種物質(zhì)在另一種物質(zhì)中的運(yùn)動(dòng)
C. 預(yù)淀積
D. 高溫多步退火
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你可能感興趣的試題
A. 有選擇地形成被刻蝕圖形的側(cè)壁形狀
B. 在涂膠的硅片上正確地復(fù)制掩膜圖形
C. 變成刻蝕介質(zhì)以形成一個(gè)凹槽
D. 在大于3微米的情況下,混合發(fā)生化學(xué)作用與物理作用
A.增大光源波長(zhǎng);
B.減小光源波長(zhǎng);
C.減小光學(xué)系統(tǒng)數(shù)值孔徑;
D.增大光學(xué)系統(tǒng)數(shù)值孔徑。
A. 誘生電荷
B. 鳥嘴效應(yīng)
C. 陷阱電荷
D. 可移動(dòng)電荷
A.高電阻率;
B.高化學(xué)穩(wěn)定性;
C.低介電常數(shù);
D.高介電強(qiáng)度。
A.35;
B.100;
C.102;
D.237。
最新試題
如下哪個(gè)選項(xiàng)不是半導(dǎo)體器件制備過程中的主要污染物?()
當(dāng)許多損傷區(qū)連在一起時(shí)就會(huì)形成連續(xù)的非晶層,開始形成連續(xù)非晶層的注入劑量稱為()。
三光檢查主要是檢查芯片粘貼和引線焊接之后有無各種廢品。
鳥嘴效應(yīng)造成的不良影響有()。
刻蝕工藝可以和以下哪個(gè)工藝結(jié)合來實(shí)現(xiàn)圖形的轉(zhuǎn)移?()
新的平坦化方法有哪幾個(gè)?()
目前制備SOI材料的主流技術(shù)有幾種?()
下面哪道工序主要是針對(duì)晶圓切割之后在顯微鏡下進(jìn)行晶圓r的外觀檢查,是否有出現(xiàn)廢品?()
刻蝕過程中聚合物形成的來源有()。
注入損傷與注入離子的以下哪個(gè)參數(shù)無關(guān)?()