最新試題
鍵合工藝失效,焊盤產(chǎn)生彈坑的原因有()。
題型:多項選擇題
為了獲得好的性能,塑封料的電學(xué)性必須得到控制。
題型:判斷題
載帶自動焊使用的凸點形狀一般有蘑菇凸點和柱凸點兩種。
題型:判斷題
倒裝芯片的連接方式有()。
題型:多項選擇題
去飛邊毛刺工藝主要有介質(zhì)去飛邊毛刺、溶劑去飛邊毛刺、水去飛邊毛刺。
題型:判斷題
AUBM的形成可以采用()方法。
題型:多項選擇題
下面關(guān)于BGA的特點,說法錯誤的是()。
題型:單項選擇題
下列對焊接可靠性無影響的是()。
題型:單項選擇題
按照芯片組裝方式的不同,關(guān)于SiP的分類,說法錯誤的是()。
題型:單項選擇題
鍵合工藝失效,,鍵合點尾絲不一致,可能產(chǎn)生的原因有()。
題型:多項選擇題