A.了解凸耳的結(jié)構(gòu)、受力狀況、缺陷的位置是重要的
B.參考試塊的尺寸和形狀應(yīng)與檢測(cè)部位相同
C.調(diào)整靈敏度時(shí),應(yīng)設(shè)置報(bào)警閘門
D.以上都是
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A.上表面分辨力
B.下表面分辨力
C.縱向分辨力
D.橫向分辨力
A.使用抑制
B.使用更高頻率探頭
C.提高增益
D.以上都可以
A.采用更高的靈敏度
B.掃查面上涂更多的耦合劑
C.保持正確的掃查方向,速度和間距
D.仔細(xì)觀察熒光屏上出現(xiàn)的顯示信號(hào)
A.探頭的頻率和波長(zhǎng)
B.零件的厚度和聲束傳播時(shí)間
C.材料的彈性和密度
D.化學(xué)特性和磁/電導(dǎo)率
A.橫波的波長(zhǎng)小于縱波波長(zhǎng)
B.橫波在材料中不易發(fā)生頻散
C.橫波的質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)方向?qū)θ毕荼容^敏感
D.以上都是
最新試題
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí),需要進(jìn)行傳輸修正。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長(zhǎng)工件上時(shí),在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí),下面敘述中()是錯(cuò)誤的。
檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低,()。
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前,必須先調(diào)節(jié)()。
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè),儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。