單項(xiàng)選擇題（）可以檢測出與探測面垂直的橫向缺陷。
A.K式檢測
B.并列式檢測
C.串列式檢測
D.交叉式檢測
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1.單項(xiàng)選擇題（）可以檢測出與探測面相垂直的面狀缺陷。
A.單探頭法
B.并列式檢測
C.串列式檢測
D.交叉式檢測
2.單項(xiàng)選擇題單探頭法容易檢出（）。
A.與探測面成某一角度的缺陷
B.與波束軸線垂直的片狀缺陷和立體狀缺陷
C.與探測面相垂直的面狀缺陷
D.與探測面垂直的橫向缺陷
3.單項(xiàng)選擇題（）可以對管路、管道進(jìn)行長距離檢測。
A.表面波法
B.縱波法
C.導(dǎo)波法
D.橫波法
4.單項(xiàng)選擇題板波檢測可以發(fā)現(xiàn)（），其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。
A.內(nèi)部缺陷
B.表面缺陷
C.近表面缺陷
D.內(nèi)部和表面缺陷
5.單項(xiàng)選擇題（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。
A.表面波法
B.縱波法
C.爬波法
D.橫波法
最新試題
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測，儀器顯示缺陷的聲程為S，則缺陷的水平距離l為（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射，這種波是（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
用橫波斜探頭檢測，找到缺陷最大回波后，探頭所在截面及（）可以確定缺陷位置。
題型：單項(xiàng)選擇題
實(shí)際檢測中，為了提高掃查速度而又不引起漏檢，常將檢測靈敏度適當(dāng)提高，這種在檢測靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
儀器水平線性影響（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
縱波直探頭徑向檢測實(shí)心圓柱時(shí)，在第一次底波之后，還有2個(gè)特定位置的反射波，這種波是（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
在對缺陷進(jìn)行定量前，必須先調(diào)節(jié)（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
檢測靈敏度太高和太低對檢測都不利。靈敏度太低，（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
底波計(jì)算法是利用（）與平底孔反射回波相差的分貝（dB）值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
題型：單項(xiàng)選擇題
底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小，操作方便，適用于（）的工件。
題型：單項(xiàng)選擇題