A.上表面分辨力
B.下表面分辨力
C.縱向分辨力
D.橫向分辨力
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.使用抑制
B.使用更高頻率探頭
C.提高增益
D.以上都可以
A.采用更高的靈敏度
B.掃查面上涂更多的耦合劑
C.保持正確的掃查方向，速度和間距
D.仔細(xì)觀察熒光屏上出現(xiàn)的顯示信號
A.探頭的頻率和波長
B.零件的厚度和聲束傳播時(shí)間
C.材料的彈性和密度
D.化學(xué)特性和磁/電導(dǎo)率
A.橫波的波長小于縱波波長
B.橫波在材料中不易發(fā)生頻散
C.橫波的質(zhì)點(diǎn)振動方向?qū)θ毕荼容^敏感
D.以上都是
A.掃查時(shí)，注意觀察是否有始脈沖信號
B.掃查時(shí)，注意觀察是否有底波信號
C.掃查時(shí)，注意觀察固定回波信號或基線上噪聲信號是否游動
D.以上都是
最新試題
檢測靈敏度太高和太低對檢測都不利。靈敏度太低，（）。
超聲檢測對缺陷定位時(shí)，（）不是影響缺陷定位的主要因素。
（）可以檢測出與探測面垂直的橫向缺陷。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測，儀器顯示缺陷的聲程為S，則缺陷的水平距離l為（）。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定，而缺陷的大小可由缺陷的面積或（）來表征。
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射，這種波是（）。
（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí)，下面敘述中（）是錯(cuò)誤的。
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度，即（）。
實(shí)際檢測中，為了提高掃查速度而又不引起漏檢，常將檢測靈敏度適當(dāng)提高，這種在檢測靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做（）。