（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。

調節(jié)時基線時，應使（）同時對準相應的聲程位置。

底波計算法是利用（）與平底孔反射回波相差的分貝（dB）值進行靈敏度校準。

（）可以檢測出與探測面垂直的橫向缺陷。

當縱波直探頭置于細長工件上時，在底波之后出現(xiàn)一系列的波，這種波是（）。

移動探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動探頭，缺陷回波高度降低一半時，探頭中心軸線所對應的位置即為指示長度的端點，兩端點之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為（）。

底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小，操作方便，適用于（）的工件。

（）可以檢測出與探測面相垂直的面狀缺陷。

超聲檢測系統(tǒng)的靈敏度余量（）。

當調節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質衰減不同時，需要進行傳輸修正。