底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小，操作方便，適用于（）的工件。

當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射，這種波是（）。

關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn)，說法錯(cuò)誤的是（）。

（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。

當(dāng)調(diào)節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí)，需要進(jìn)行傳輸修正。

（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。

底波計(jì)算法是利用（）與平底孔反射回波相差的分貝（dB）值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。

用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測，儀器顯示缺陷的聲程為S，則缺陷的水平距離l為（）。

檢測靈敏度太高和太低對(duì)檢測都不利。靈敏度太低，（）。

（）可以檢測出與探測面垂直的橫向缺陷。