（）是影響缺陷定量的因素。

單探頭法容易檢出（）。

底波計(jì)算法是利用（）與平底孔反射回波相差的分貝（dB）值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。

（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。

（）可以檢測出與探測面相垂直的面狀缺陷。

探頭延檢測面水平移動，超聲檢測系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為（）。

關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn)，說法錯(cuò)誤的是（）。

當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射，這種波是（）。

縱波直探頭徑向檢測實(shí)心圓柱時(shí)，在第一次底波之后，還有2個(gè)特定位置的反射波，這種波是（）。

缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定，而缺陷的大小可由缺陷的面積或（）來表征。