單項(xiàng)選擇題接觸法45°橫波探測(cè)50mm厚鋁板時(shí),如果按水平距離1:2調(diào)整時(shí)間基線且入射點(diǎn)位于零位的話,0.5跨距點(diǎn)應(yīng)在顯示屏的何位置處?()

A.25%
B.50%
C.75%
D.100%


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2.單項(xiàng)選擇題接觸法45°橫波按聲程1:1調(diào)整時(shí)間基線探測(cè)50mm厚鋁板時(shí),發(fā)現(xiàn)位于顯示屏80%處有一個(gè)顯示信號(hào)。該顯示位于鋁板的何處位置()

A.距入射點(diǎn)約50.2mm、埋深38.6mm處
B.距入射點(diǎn)約56.5mm、埋深43.4mm處
C.距入射點(diǎn)約70.4mm、埋深22.3mm處
D.距入射點(diǎn)約80.1mm、埋深.16.5mm處

4.單項(xiàng)選擇題以下有關(guān)縱波斜入射至側(cè)壁的描述;哪個(gè)是正確的()

A.由于分離出較強(qiáng)的橫波,縱波反射系數(shù)很低
B.由于分離出較強(qiáng)的橫波,縱波衰減嚴(yán)重
C.由于分離出較強(qiáng)的橫波,可以接收到反射橫波
D.以上都是

5.單項(xiàng)選擇題以下有關(guān)雙晶片探頭(聯(lián)合雙探頭)的描述,哪個(gè)是正確的()

A.存在聲能集中區(qū)
B.下盲區(qū)小
C.掃查時(shí),隔聲層應(yīng)盡量與缺陷方向垂直
D.以上都是

最新試題

超聲檢測(cè)儀盲區(qū)是指()。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

底波計(jì)算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

()可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí),下面敘述中()是錯(cuò)誤的。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低,()。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測(cè)出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來(lái)確定。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

板波檢測(cè)可以發(fā)現(xiàn)(),其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭,缺陷回波高度降低一半時(shí),探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn),兩端點(diǎn)之間的直線長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱(chēng)為()。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小,操作方便,適用于()的工件。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí),在第一次底波之后,還有2個(gè)特定位置的反射波,這種波是()。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題