A.25%
B.50%
C.75%
D.100%
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A.距入射點約50.2mm、埋深38.6mm處
B.距入射點約56.5mm、埋深43.4mm處
C.距入射點約70.4mm、埋深22.3mm處
D.距入射點約80.1mm、埋深.16.5mm處
A.14°
B.22°
C.32°
D.45°
A.由于分離出較強的橫波,縱波反射系數(shù)很低
B.由于分離出較強的橫波,縱波衰減嚴重
C.由于分離出較強的橫波,可以接收到反射橫波
D.以上都是
A.存在聲能集中區(qū)
B.下盲區(qū)小
C.掃查時,隔聲層應盡量與缺陷方向垂直
D.以上都是
A.在尖銳的邊緣拐角發(fā)生繞射
B.在尖銳的邊緣拐角發(fā)生反射
C.被尖銳的邊緣拐角吸收
D.以上都可能發(fā)生
最新試題
檢測靈敏度太高和太低對檢測都不利。靈敏度太低,()。
當超聲波到達工件的臺階、螺紋等輪廓時將引起反射,這種波是()。
用折射角β的斜探頭進行檢測,儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
實際檢測中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測靈敏度適當提高,這種在檢測靈敏度基礎上適當提高后的靈敏度叫做()。
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的()。
利用底波計算法進行靈敏度校準時,適用的工件厚度為()。
超聲檢測對缺陷定位時,()不是影響缺陷定位的主要因素。
調整檢測靈敏度的目的在于檢測出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對缺陷進行()。
()可以檢測出與探測面相垂直的面狀缺陷。