A.14°
B.22°
C.32°
D.45°
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A.由于分離出較強的橫波，縱波反射系數(shù)很低
B.由于分離出較強的橫波，縱波衰減嚴重
C.由于分離出較強的橫波，可以接收到反射橫波
D.以上都是
A.存在聲能集中區(qū)
B.下盲區(qū)小
C.掃查時，隔聲層應(yīng)盡量與缺陷方向垂直
D.以上都是
A.在尖銳的邊緣拐角發(fā)生繞射
B.在尖銳的邊緣拐角發(fā)生反射
C.被尖銳的邊緣拐角吸收
D.以上都可能發(fā)生
A.被檢工件太厚
B.工件底面與探測面不平行
C.工件與試塊材質(zhì)或表面光潔度有差異
D.以上都是
A.可利用缺陷的陰影效果進行評價
B.可不考慮傳輸修正
C.常用于對缺陷定量不嚴格的工件
D.有助于檢測因缺陷形狀等原因使反射信號減弱的大缺陷
最新試題
單探頭法容易檢出（）。
當超聲波到達工件的臺階、螺紋等輪廓時將引起反射，這種波是（）。
調(diào)整檢測靈敏度的目的在于檢測出工件中規(guī)定大小的缺陷，并對缺陷進行（）。
底波計算法是利用（）與平底孔反射回波相差的分貝（dB）值進行靈敏度校準。
利用底波計算法進行靈敏度校準時，適用的工件厚度為（）。
檢測靈敏度太高和太低對檢測都不利。靈敏度太低，（）。
底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小，操作方便，適用于（）的工件。
（）是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測出規(guī)定大小缺陷的能力，一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標準來確定。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點，說法錯誤的是（）。
調(diào)節(jié)時基線時，應(yīng)使（）同時對準相應(yīng)的聲程位置。