縱波斜探頭法的優(yōu)點是工件中既有縱波，又有橫波，因此可同時用縱波和橫波進行缺陷檢測。

測定組合靈敏度時，應先調(diào)節(jié)儀器的“抑制”旋鈕，使電燥聲電平≦10%，再進行測試。

所謂“幻影回波”，是由于探傷頻率過高或材料晶粒粗大引起的。

CSKⅠA試塊上R100和R50兩個階梯圓弧面可用來調(diào)節(jié)橫波掃描速度和探測范圍。

利用IIW試塊上的φ50孔兩側(cè)面的距離，只能測定直探頭盲區(qū)的大致范圍。

雙晶直探頭傾角越大，交點離探測面距離愈遠，覆蓋區(qū)愈大。

實際探傷中，為提高掃查速度，減少雜波的干擾，應將探傷靈敏度適當降低。

縱波直探頭法主要用于檢測與檢測面平行的缺陷。

目前使用最廣泛的超聲測厚儀是脈沖反射式測厚儀。

“靈敏度”意味著發(fā)現(xiàn)小缺陷的能力，因此超聲波探傷靈敏度越高越好。