利用IIW試塊上的φ50孔兩側(cè)面的距離，只能測(cè)定直探頭盲區(qū)的大致范圍。

測(cè)定儀器垂直線性和動(dòng)態(tài)范圍時(shí)，應(yīng)將儀器的“抑制”和“深度補(bǔ)償”旋鈕置于關(guān)的位置。

底波高度法經(jīng)常作為缺陷回波法的一種輔助手段。

盲區(qū)與始波寬度是同一概念。

標(biāo)準(zhǔn)試塊的材質(zhì)應(yīng)盡可能與被檢工件相同或相近。

脈沖反射法可對(duì)缺陷定性、定量和定位。

斜探頭楔塊上部和前部開消聲槽的目的是使聲波反射回晶片處，減少聲能損失。

測(cè)定“始脈沖寬度”時(shí)，應(yīng)將儀器的靈敏度調(diào)至最大。

多次底波法缺陷檢出靈敏度低于缺陷回波法。

所謂“幻影回波”，是由于探傷頻率過高或材料晶粒粗大引起的。