脈沖反射法可對(duì)缺陷定性、定量和定位。

工件比較粗糙時(shí)，為防止探頭磨損和保護(hù)晶片，宜選用硬保護(hù)膜。

測(cè)定“始脈沖寬度”時(shí)，應(yīng)將儀器的靈敏度調(diào)至最大。

多次底波法缺陷檢出靈敏度低于缺陷回波法。

盲區(qū)與始波寬度是同一概念。

CSKⅠA試塊上R100和R50兩個(gè)階梯圓弧面可用來(lái)調(diào)節(jié)橫波掃描速度和探測(cè)范圍。

多探頭法是用兩個(gè)以上的探頭同時(shí)工作的檢測(cè)方法。

曲面工件探傷時(shí)，探傷面曲率半徑愈大，耦合效果愈好。

測(cè)定儀器垂直線性和動(dòng)態(tài)范圍時(shí)，應(yīng)將儀器的“抑制”和“深度補(bǔ)償”旋鈕置于關(guān)的位置。

檢測(cè)面準(zhǔn)備的目的是為了保證良好的聲耦合。