與IIW試塊相比，CSKⅠA試塊的優(yōu)點之一是可以測定斜探頭的分辨力。

斜探頭楔塊上部和前部開消聲槽的目的是使聲波反射回晶片處，減少聲能損失。

液浸法的優(yōu)點之一是聲耦合穩(wěn)定，檢測結(jié)果重復(fù)性好。

當(dāng)量法用來測量大于聲束截面的缺陷的尺寸。

目前使用最廣泛的超聲測厚儀是脈沖反射式測厚儀。

軟保護膜探頭可減少粗糙表面對探傷的影響。

盲區(qū)與始波寬度是同一概念。

檢測面準(zhǔn)備的目的是為了保證良好的聲耦合。

底波高度法經(jīng)常作為缺陷回波法的一種輔助手段。

CSKⅠA試塊上R100和R50兩個階梯圓弧面可用來調(diào)節(jié)橫波掃描速度和探測范圍。