工件比較粗糙時，為防止探頭磨損和保護(hù)晶片，宜選用硬保護(hù)膜。

單探頭法是反射法，雙探頭法都是穿透法。

CSKⅠA試塊上R100和R50兩個階梯圓弧面可用來調(diào)節(jié)橫波掃描速度和探測范圍。

底波高度法經(jīng)常作為缺陷回波法的一種輔助手段。

斜探頭前部磨損較多時，探頭的K值將變小。

所謂“幻影回波”，是由于探傷頻率過高或材料晶粒粗大引起的。

雙晶直探頭傾角越大，交點離探測面距離愈遠(yuǎn)，覆蓋區(qū)愈大。

脈沖反射法可對缺陷定性、定量和定位。

脈沖重復(fù)頻率的調(diào)節(jié)與被探工件厚度有關(guān)，對厚度大的工件，應(yīng)采用較低的重復(fù)頻率。

由于水中只能傳播縱波，所以水浸探頭不能進(jìn)行橫波探傷。