A.橫通孔試塊
B.平底孔試塊
C.帶棱邊的矩形試塊
D.以上都可以
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.橫通孔試塊
B.平底孔試塊（橫波）
C.帶棱邊的矩形試塊
D.以上都可以
A.35°
B.45°
C.55°
D.60°
A.可以直接在帶棱邊的工件上調(diào)整時(shí)基線
B.工件表面的外來(lái)物對(duì)聲波衰減有明顯作用
C.通過(guò)手指觸摸可以容易地找到反射點(diǎn)
D.以上都是
A.檢測(cè)技術(shù)的選擇是否正確
B.檢測(cè)過(guò)程的操作是否正確
C.缺陷評(píng)定方法是否正確
D.以上都是
A.由于缺陷取向的影響；大尺寸缺陷的回波比小尺寸缺陷的回波高
B.由于缺陷形狀的影響；圓片形缺陷的回波比圓柱形缺陷的回波高
C.由于缺陷性質(zhì)的影響；氣孔缺陷的回波比夾雜缺陷的回波高
D.由于缺陷表面的影響；對(duì)于傾斜缺陷，粗糙面的回波比光滑面的回波高
最新試題
直接接觸法是指探頭與工件之間（）。
（）可以對(duì)管路、管道進(jìn)行長(zhǎng)距離檢測(cè)。
調(diào)整檢測(cè)靈敏度的目的在于檢測(cè)出工件中規(guī)定大小的缺陷，并對(duì)缺陷進(jìn)行（）。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí)，應(yīng)使（）同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射，這種波是（）。
（）可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。
檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低，（）。
縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí)，在第一次底波之后，還有2個(gè)特定位置的反射波，這種波是（）。
（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭，缺陷回波高度降低一半時(shí)，探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn)，兩端點(diǎn)之間的直線長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱為（）。