A.35°
B.45°
C.55°
D.60°
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A.可以直接在帶棱邊的工件上調(diào)整時(shí)基線
B.工件表面的外來物對(duì)聲波衰減有明顯作用
C.通過手指觸摸可以容易地找到反射點(diǎn)
D.以上都是
A.檢測(cè)技術(shù)的選擇是否正確
B.檢測(cè)過程的操作是否正確
C.缺陷評(píng)定方法是否正確
D.以上都是
A.由于缺陷取向的影響；大尺寸缺陷的回波比小尺寸缺陷的回波高
B.由于缺陷形狀的影響；圓片形缺陷的回波比圓柱形缺陷的回波高
C.由于缺陷性質(zhì)的影響；氣孔缺陷的回波比夾雜缺陷的回波高
D.由于缺陷表面的影響；對(duì)于傾斜缺陷，粗糙面的回波比光滑面的回波高
A.有已知聲速的平面試樣
B.待測(cè)件厚度可以測(cè)量
C.時(shí)基線調(diào)整要準(zhǔn)確
D.以上都是
A.用已知厚度試塊，通過校準(zhǔn)進(jìn)行測(cè)量
B.為了準(zhǔn)確測(cè)量，需要使用不同厚度的兩塊試塊進(jìn)行校準(zhǔn)
C.測(cè)量時(shí)，需要了解被測(cè)件的聲速
D.以上都是
最新試題
（）可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn)，說法錯(cuò)誤的是（）。
用橫波斜探頭檢測(cè)，找到缺陷最大回波后，探頭所在截面及（）可以確定缺陷位置。
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度，即（）。
檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低，（）。
超聲檢測(cè)系統(tǒng)的靈敏度余量（）。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè)，儀器顯示缺陷的聲程為S，則缺陷的水平距離l為（）。
（）是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測(cè)出規(guī)定大小缺陷的能力，一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭，缺陷回波高度降低一半時(shí)，探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長度的端點(diǎn)，兩端點(diǎn)之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測(cè)長方法稱為（）。
探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng)，超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為（）。