A.可以直接在帶棱邊的工件上調(diào)整時(shí)基線
B.工件表面的外來(lái)物對(duì)聲波衰減有明顯作用
C.通過(guò)手指觸摸可以容易地找到反射點(diǎn)
D.以上都是
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A.檢測(cè)技術(shù)的選擇是否正確
B.檢測(cè)過(guò)程的操作是否正確
C.缺陷評(píng)定方法是否正確
D.以上都是
A.由于缺陷取向的影響;大尺寸缺陷的回波比小尺寸缺陷的回波高
B.由于缺陷形狀的影響;圓片形缺陷的回波比圓柱形缺陷的回波高
C.由于缺陷性質(zhì)的影響;氣孔缺陷的回波比夾雜缺陷的回波高
D.由于缺陷表面的影響;對(duì)于傾斜缺陷,粗糙面的回波比光滑面的回波高
A.有已知聲速的平面試樣
B.待測(cè)件厚度可以測(cè)量
C.時(shí)基線調(diào)整要準(zhǔn)確
D.以上都是
A.用已知厚度試塊,通過(guò)校準(zhǔn)進(jìn)行測(cè)量
B.為了準(zhǔn)確測(cè)量,需要使用不同厚度的兩塊試塊進(jìn)行校準(zhǔn)
C.測(cè)量時(shí),需要了解被測(cè)件的聲速
D.以上都是
A.5mm
B.10mm
C.20mm
D.40mm
最新試題
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射,這種波是()。
超聲檢測(cè)對(duì)缺陷定位時(shí),()不是影響缺陷定位的主要因素。
超聲檢測(cè)系統(tǒng)的靈敏度余量()。
()是影響缺陷定量的因素。
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度,即()。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小,操作方便,適用于()的工件。
縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí),在第一次底波之后,還有2個(gè)特定位置的反射波,這種波是()。
()可以對(duì)管路、管道進(jìn)行長(zhǎng)距離檢測(cè)。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè),儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。