A.由于缺陷取向的影響；大尺寸缺陷的回波比小尺寸缺陷的回波高
B.由于缺陷形狀的影響；圓片形缺陷的回波比圓柱形缺陷的回波高
C.由于缺陷性質(zhì)的影響；氣孔缺陷的回波比夾雜缺陷的回波高
D.由于缺陷表面的影響；對于傾斜缺陷，粗糙面的回波比光滑面的回波高
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你可能感興趣的試題
A.有已知聲速的平面試樣
B.待測件厚度可以測量
C.時基線調(diào)整要準(zhǔn)確
D.以上都是
A.用已知厚度試塊，通過校準(zhǔn)進(jìn)行測量
B.為了準(zhǔn)確測量，需要使用不同厚度的兩塊試塊進(jìn)行校準(zhǔn)
C.測量時，需要了解被測件的聲速
D.以上都是
A.5mm
B.10mm
C.20mm
D.40mm
A.5mm
B.10mm
C.20mm
D.40mm
A.會使聲束產(chǎn)生彎曲現(xiàn)象
B.會產(chǎn)生固定的遲到回波
C.聲束在側(cè)壁上會產(chǎn)生變型波
D.以上都有可能
最新試題
檢測靈敏度太高和太低對檢測都不利。靈敏度太低，（）。
（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定，而缺陷的大小可由缺陷的面積或（）來表征。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點，說法錯誤的是（）。
底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小，操作方便，適用于（）的工件。
（）可以檢測出與探測面相垂直的面狀缺陷。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法，下面說法錯誤的是（）。
單探頭法容易檢出（）。
底波計算法是利用（）與平底孔反射回波相差的分貝（dB）值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
移動探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動探頭，缺陷回波高度降低一半時，探頭中心軸線所對應(yīng)的位置即為指示長度的端點，兩端點之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為（）。