A.上擴(kuò)散角大于下擴(kuò)散角
B.上擴(kuò)散角小于下擴(kuò)散角
C.上擴(kuò)散角等于下擴(kuò)散角
D.與同規(guī)格探頭垂直入射時(shí)產(chǎn)生的半擴(kuò)散角一樣
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A.聲壓
B.波高
C.聲阻抗
D.聲強(qiáng)
A.工件表面粗糙
B.晶粒粗大組織不均勻
C.形狀較復(fù)雜
D.以上選項(xiàng)全部
A.儀器水平線性
B.儀器衰減器精度
C.儀器垂直線性
D.探頭晶片尺寸和頻率
A.使聲束能掃查到整個(gè)焊縫截面
B.使聲束中心線盡可能與主要危險(xiǎn)性缺陷垂直
C.保證有足夠的探傷靈敏度
D.以上選項(xiàng)全是
A.比實(shí)際深度大
B.比實(shí)際深度小
C.與實(shí)際深度相同
最新試題
單探頭法容易檢出（）。
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前，必須先調(diào)節(jié)（）。
儀器水平線性影響（）。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭，缺陷回波高度降低一半時(shí)，探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn)，兩端點(diǎn)之間的直線長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱為（）。
（）可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí)，需要進(jìn)行傳輸修正。
超聲檢測(cè)系統(tǒng)的靈敏度余量（）。
（）可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。
用橫波斜探頭檢測(cè)，找到缺陷最大回波后，探頭所在截面及（）可以確定缺陷位置。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長(zhǎng)工件上時(shí)，在底波之后出現(xiàn)一系列的波，這種波是（）。