A.αA=C1f
B.αs=C2f3
C.αs=C3f2
D.αs=C4f4
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A.αA=C1f
B.αs=C2f3
C.αs=C3f2
D.αs=C4f4
A.瑞利散射
B.隨機(jī)散射
C.漫散射
D.以上都不會(huì)發(fā)生
A.瑞利散射
B.隨機(jī)散射
C.漫散射
D.以上都不會(huì)發(fā)生
A.瑞利散射
B.隨機(jī)散射
C.漫散射
D.以上都不會(huì)發(fā)生
A.與頻率的四次方成正比
B.與頻率的平方成正比
C.與頻率成正比
D.以上都不對(duì)
最新試題
超聲檢測(cè)儀盲區(qū)是指()。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。
調(diào)整檢測(cè)靈敏度的目的在于檢測(cè)出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對(duì)缺陷進(jìn)行()。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭,缺陷回波高度降低一半時(shí),探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長度的端點(diǎn),兩端點(diǎn)之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測(cè)長方法稱為()。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí),需要進(jìn)行傳輸修正。
實(shí)際檢測(cè)中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測(cè)靈敏度適當(dāng)提高,這種在檢測(cè)靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做()。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來表征。
單探頭法容易檢出()。
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí),下面敘述中()是錯(cuò)誤的。
板波檢測(cè)可以發(fā)現(xiàn)(),其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。