單項(xiàng)選擇題超聲波在介質(zhì)中傳播時(shí),如果介質(zhì)平均晶粒直徑d與波長λ的關(guān)系為d≈λ時(shí),會(huì)發(fā)生()。

A.瑞利散射
B.隨機(jī)散射
C.漫散射
D.以上都不會(huì)發(fā)生


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2.單項(xiàng)選擇題超聲波在介質(zhì)中發(fā)生瑞利散射時(shí),其散射程度()。

A.與頻率的四次方成正比
B.與頻率的平方成正比
C.與頻率成正比
D.以上都不對

3.單項(xiàng)選擇題超聲波在介質(zhì)中發(fā)生隨機(jī)散射時(shí),其散射程度()。

A.與頻率的四次方成正比
B.與頻率的平方成正比
C.與頻率成正比
D.以上都不對

4.單項(xiàng)選擇題超聲波在介質(zhì)中發(fā)生漫散射時(shí),其散射程度()。

A.與頻率的四次方成正比
B.與頻率的平方成正比
C.與頻率成正比
D.以上都不對

最新試題

超聲檢測系統(tǒng)的靈敏度余量()。

題型:單項(xiàng)選擇題

用橫波斜探頭檢測,找到缺陷最大回波后,探頭所在截面及()可以確定缺陷位置。

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底波計(jì)算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。

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調(diào)整檢測靈敏度的目的在于檢測出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對缺陷進(jìn)行()。

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測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的()。

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當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長工件上時(shí),在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。

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當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射,這種波是()。

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利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí),適用的工件厚度為()。

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當(dāng)調(diào)節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí),需要進(jìn)行傳輸修正。

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題型:單項(xiàng)選擇題