A.因果圖
B.直方圖
C.效果圖
D.控制圖
E.檢查表
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A.Xbar-R chart
B.np chart
C.u chart
D.Xbar-s chart
A.不良
B.缺陷
C.產(chǎn)品
D.OQA reject
A.Xbar-R chart
B.np chart
C.c chart
D.Xbar-s chart
A.不合格品率P控制圖
B.均值-極差x-R控制圖
C.不合格數(shù)c控制圖
D.單值-移動(dòng)極差X-Rs控制圖
E.不合格品數(shù)np控制圖
A.不合格品率P控制圖
B.均值-極差x-R控制圖
C.不合格數(shù)c控制圖
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E.不合格品數(shù)np控制圖
最新試題
當(dāng)過程能力不足時(shí)，為提高過程能力，應(yīng)進(jìn)一步減小普通原因和特殊原因造成的變差。
只有超出USL和LSL才需要采取措施。
所有的特殊特性均應(yīng)使用統(tǒng)計(jì)過程控制。
R
σ
當(dāng)控制圖中有連續(xù)6點(diǎn)上升或下降時(shí)，說(shuō)明過程處于（）
因?yàn)閄（bar）-R圖最為精確和敏感，較其它方法優(yōu)勢(shì)更強(qiáng)，因此大多數(shù)企業(yè)都選擇使用該方法。
Ppk用于批量生產(chǎn)時(shí)對(duì)過程能力分析，Cpk用于批產(chǎn)前對(duì)過程能力的分析。
P圖控制法適用于對(duì)所有的計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)做統(tǒng)計(jì)過程控制。
做初始能力研究時(shí)，Cp大于1.33，這臺(tái)機(jī)器能力可以接受了。