A.Xbar-R chart
B.np chart
C.u chart
D.Xbar-s chart
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A.不良
B.缺陷
C.產(chǎn)品
D.OQA reject
A.Xbar-R chart
B.np chart
C.c chart
D.Xbar-s chart
A.不合格品率P控制圖
B.均值-極差x-R控制圖
C.不合格數(shù)c控制圖
D.單值-移動(dòng)極差X-Rs控制圖
E.不合格品數(shù)np控制圖
A.不合格品率P控制圖
B.均值-極差x-R控制圖
C.不合格數(shù)c控制圖
D.單值-移動(dòng)極差X-Rs控制圖
E.不合格品數(shù)np控制圖
A.1.33
B.1.67
C.0.67
D.1.0
最新試題
第Ⅰ類錯(cuò)誤
SPC
當(dāng)X-MR圖中有連續(xù)9個(gè)點(diǎn)落在中心線同一側(cè)時(shí),說明過程處于()
當(dāng)過程能力不足時(shí),為提高過程能力,應(yīng)進(jìn)一步減小普通原因和特殊原因造成的變差。
因?yàn)閄(bar)-R圖最為精確和敏感,較其它方法優(yōu)勢(shì)更強(qiáng),因此大多數(shù)企業(yè)都選擇使用該方法。
1924年,美國(guó)的品管大師休哈特(W.A.Shewhart)博士提出將3Sigma原理運(yùn)用于生產(chǎn)過程當(dāng)中,并發(fā)表了著名的“控制圖法”(亦稱為:Shewhart控制圖或3σ控制圖。即:一種以實(shí)際產(chǎn)品質(zhì)量特性與依過去經(jīng)驗(yàn)所分析的過程能力的控制界限比較,而以時(shí)間順序表示出來的圖形)。通過對(duì)過程變差進(jìn)行控制,為統(tǒng)計(jì)質(zhì)量管理奠定了理論和方法基礎(chǔ)。
Ppk用于批量生產(chǎn)時(shí)對(duì)過程能力分析,Cpk用于批產(chǎn)前對(duì)過程能力的分析。
正確使用統(tǒng)計(jì)技術(shù),能達(dá)到早期預(yù)防或及時(shí)提出矯正措施并得以及時(shí)改善的目的。
當(dāng)控制圖中有連續(xù)14點(diǎn)交替升降時(shí),說明過程處于()
P圖控制法適用于對(duì)所有的計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)做統(tǒng)計(jì)過程控制。