當(dāng)量法用來(lái)測(cè)量大于聲束截面的缺陷的尺寸。

單探頭法是反射法，雙探頭法都是穿透法。

測(cè)定儀器垂直線性和動(dòng)態(tài)范圍時(shí)，應(yīng)將儀器的“抑制”和“深度補(bǔ)償”旋鈕置于關(guān)的位置。

測(cè)定組合靈敏度時(shí)，應(yīng)先調(diào)節(jié)儀器的“抑制”旋鈕，使電燥聲電平≦10%，再進(jìn)行測(cè)試。

測(cè)定“始脈沖寬度”時(shí)，應(yīng)將儀器的靈敏度調(diào)至最大。

目前使用最廣泛的超聲測(cè)厚儀是脈沖反射式測(cè)厚儀。

與IIW試塊相比，CSKⅠA試塊的優(yōu)點(diǎn)之一是可以測(cè)定斜探頭的分辨力。

斜探頭前部磨損較多時(shí)，探頭的K值將變小。

橫波法主要用于檢測(cè)與檢測(cè)面成一定傾角的缺陷。

縱波直探頭法主要用于檢測(cè)與檢測(cè)面平行的缺陷。