單項(xiàng)選擇題軟保護(hù)膜探頭使用于()的工件表面。
A.光結(jié)表面
B.粗糙表面
C.A和B
D.視具體情況
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1.單項(xiàng)選擇題超聲波探頭的頻率與壓電晶片厚度有關(guān),晶片越薄則()
A.頻率越低
B.頻率越高
C.頻率不變
D.以上都不對
2.單項(xiàng)選擇題目前工業(yè)常用的超聲波測厚儀利用的是()
A.連續(xù)波穿透法
B.脈沖波反射法
C.連續(xù)波共振法
D.剪切波諧振法
3.單項(xiàng)選擇題評價(jià)超聲波探傷儀在規(guī)定靈敏度下發(fā)現(xiàn)并顯示最小缺陷能力的指標(biāo)是()
A.分辨率
B.時(shí)基線性
C.垂直線性
D.動態(tài)范圍
4.單項(xiàng)選擇題超聲波檢測儀的分辨率主要與()有關(guān)。
A.掃描電路
B.頻帶寬度
C.動態(tài)范圍
D.放大倍數(shù)
5.單項(xiàng)選擇題可用來表示超聲波檢測儀與探頭組合性能的指標(biāo)是()
A.水平線性、垂直線性、動態(tài)范圍
B.頻帶寬度、探測寬度、重復(fù)頻率
C.靈敏度余量、盲區(qū)、分辨率
D.入射點(diǎn)、進(jìn)場長度、擴(kuò)散角
最新試題
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射,這種波是()。
題型:單項(xiàng)選擇題
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度,即()。
題型:單項(xiàng)選擇題
檢測靈敏度太高和太低對檢測都不利。靈敏度太低,()。
題型:單項(xiàng)選擇題
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來表征。
題型:單項(xiàng)選擇題
移動探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動探頭,缺陷回波高度降低一半時(shí),探頭中心軸線所對應(yīng)的位置即為指示長度的端點(diǎn),兩端點(diǎn)之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為()。
題型:單項(xiàng)選擇題
()可以檢測出與探測面垂直的橫向缺陷。
題型:單項(xiàng)選擇題
()可以檢測出與探測面相垂直的面狀缺陷。
題型:單項(xiàng)選擇題
超聲檢測系統(tǒng)的靈敏度余量()。
題型:單項(xiàng)選擇題
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長工件上時(shí),在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。
題型:單項(xiàng)選擇題
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
題型:單項(xiàng)選擇題