A.水平線性、垂直線性、動(dòng)態(tài)范圍
B.頻帶寬度、探測(cè)寬度、重復(fù)頻率
C.靈敏度余量、盲區(qū)、分辨率
D.入射點(diǎn)、進(jìn)場(chǎng)長度、擴(kuò)散角
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A.分辨率
B.指向性和近場(chǎng)長度
C.折射角和入射角
D.指示長度
A.A掃描顯示
B.B掃描顯示
C.C掃描顯示
D.以上都不是
A.A掃描顯示
B.B掃描顯示
C.C掃描顯示
D.以上都不是
A.A顯示
B.B顯示
C.C顯示
D.三維顯示
A.檢測(cè)效率高
B.幾乎適用于所有材料
C.缺陷顯示直觀
D.容易判斷缺陷的性質(zhì)
最新試題
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí)，需要進(jìn)行傳輸修正。
實(shí)際檢測(cè)中，為了提高掃查速度而又不引起漏檢，常將檢測(cè)靈敏度適當(dāng)提高，這種在檢測(cè)靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做（）。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法，下面說法錯(cuò)誤的是（）。
（）是影響缺陷定量的因素。
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí)，適用的工件厚度為（）。
測(cè)長法是根據(jù)測(cè)長缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長度稱為缺陷的（）。
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前，必須先調(diào)節(jié)（）。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長工件上時(shí)，在底波之后出現(xiàn)一系列的波，這種波是（）。
（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。
超聲檢測(cè)系統(tǒng)的靈敏度余量（）。