A.掃描電路
B.頻帶寬度
C.動(dòng)態(tài)范圍
D.放大倍數(shù)
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你可能感興趣的試題
A.水平線性、垂直線性、動(dòng)態(tài)范圍
B.頻帶寬度、探測(cè)寬度、重復(fù)頻率
C.靈敏度余量、盲區(qū)、分辨率
D.入射點(diǎn)、進(jìn)場(chǎng)長(zhǎng)度、擴(kuò)散角
A.分辨率
B.指向性和近場(chǎng)長(zhǎng)度
C.折射角和入射角
D.指示長(zhǎng)度
A.A掃描顯示
B.B掃描顯示
C.C掃描顯示
D.以上都不是
A.A掃描顯示
B.B掃描顯示
C.C掃描顯示
D.以上都不是
A.A顯示
B.B顯示
C.C顯示
D.三維顯示
最新試題
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí)，需要進(jìn)行傳輸修正。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定，而缺陷的大小可由缺陷的面積或（）來(lái)表征。
探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng)，超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為（）。
檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低，（）。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè)，儀器顯示缺陷的聲程為S，則缺陷的水平距離l為（）。
測(cè)長(zhǎng)法是根據(jù)測(cè)長(zhǎng)缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來(lái)確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度稱為缺陷的（）。
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí)，下面敘述中（）是錯(cuò)誤的。
板波檢測(cè)可以發(fā)現(xiàn)（），其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。
（）是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測(cè)出規(guī)定大小缺陷的能力，一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來(lái)確定。
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度，即（）。