單項(xiàng)選擇題表面波探傷時(shí)，儀器熒光屏屏上出現(xiàn)缺陷波的水平刻度值通常代表（）
A.缺陷深度
B.缺陷至探頭前沿距離
C.缺陷聲程
D.以上都可以
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1.單項(xiàng)選擇題如果在耦合介質(zhì)中的波長為λ，為使透聲效果好，耦合層厚度為（）
A.λ/4的奇數(shù)倍
B.λ/2的整數(shù)倍
C.小于λ/4且很薄
D.以上B和C
2.單項(xiàng)選擇題超聲檢驗(yàn)中，選用鏡片尺寸大的探頭的優(yōu)點(diǎn)是（）
A.曲面探傷時(shí)可減少耦合損失
B.可減少材質(zhì)衰減損失
C.輻射聲能大且能量集中
D.以上全部
3.單項(xiàng)選擇題超聲檢驗(yàn)中，當(dāng)探傷面比較粗糙時(shí)，宜選用（）
A.較低頻探頭
B.較粘的耦合劑
C.軟保護(hù)膜探頭
D.以上都對(duì)
4.單項(xiàng)選擇題采用什么超聲探傷技術(shù)不能測出缺陷深度？（）
A.直探頭探傷法
B.脈沖反射法
C.斜探頭探傷法
D.穿透法
5.單項(xiàng)選擇題CSK-ⅡA試塊上的Φ1×6橫孔，在超聲遠(yuǎn)場，其反射波高隨聲程的變化規(guī)律與（）相同
A.長橫孔
B.平底孔
C.球孔
D.以上B和C
最新試題
底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小，操作方便，適用于（）的工件。
題型：單項(xiàng)選擇題
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法，下面說法錯(cuò)誤的是（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭，缺陷回波高度降低一半時(shí)，探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長度的端點(diǎn)，兩端點(diǎn)之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
超聲檢測系統(tǒng)的靈敏度余量（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí)，下面敘述中（）是錯(cuò)誤的。
題型：單項(xiàng)選擇題
（）可以對(duì)管路、管道進(jìn)行長距離檢測。
題型：單項(xiàng)選擇題
直接接觸法是指探頭與工件之間（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定，而缺陷的大小可由缺陷的面積或（）來表征。
題型：單項(xiàng)選擇題
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測，儀器顯示缺陷的聲程為S，則缺陷的水平距離l為（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
單探頭法容易檢出（）。
題型：單項(xiàng)選擇題