單項(xiàng)選擇題CSK-ⅡA試塊上的Φ1×6橫孔,在超聲遠(yuǎn)場(chǎng),其反射波高隨聲程的變化規(guī)律與()相同

A.長(zhǎng)橫孔
B.平底孔
C.球孔
D.以上B和C


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1.單項(xiàng)選擇題對(duì)超聲探傷試塊材質(zhì)的基本要求是:()

A.其聲速與波探工件聲速基本一致
B.材料中沒有超過Ф2mm平底孔當(dāng)量的缺陷
C.材料衰減不太大且均勻
D.以上都是

2.單項(xiàng)選擇題用以標(biāo)定或測(cè)試超聲探傷系統(tǒng)的,含有模擬缺陷的人工反射體的金屬塊叫:()

A.晶體準(zhǔn)直器
B.測(cè)角器
C.參考試塊
D.工件

3.單項(xiàng)選擇題斜探頭前沿長(zhǎng)度和K值測(cè)定的幾種發(fā)放中,哪種方法精度最高:()、

A.半圓試法和橫孔法
B.雙孔法
C.直角邊法
D.不一定,須視具體情況而定

4.單項(xiàng)選擇題以下哪一條,不屬于雙晶探頭的性能指標(biāo)()

A.工作頻率
B.晶片尺寸
C.探測(cè)深度
D.近場(chǎng)長(zhǎng)度

5.單項(xiàng)選擇題以下哪一條,不屬于雙晶探頭的優(yōu)點(diǎn)()

A.探測(cè)范圍大
B.盲區(qū)小
C.工件中近場(chǎng)長(zhǎng)度小
D.雜波少

最新試題

儀器水平線性影響()。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè),儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

實(shí)際檢測(cè)中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測(cè)靈敏度適當(dāng)提高,這種在檢測(cè)靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做()。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn),說法錯(cuò)誤的是()。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說法錯(cuò)誤的是()。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

測(cè)長(zhǎng)法是根據(jù)測(cè)長(zhǎng)缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度稱為缺陷的()。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

板波檢測(cè)可以發(fā)現(xiàn)(),其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí),需要進(jìn)行傳輸修正。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

單探頭法容易檢出()。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

直接接觸法是指探頭與工件之間()。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題