探傷工藝規(guī)程編制的內(nèi)容有很多，其中包括（）。

在橫波探傷中，探頭K值對探傷（）有較大的影響。

垂直法局部掃查即探頭在整個面上按規(guī)定，并事先劃出的線上移動，相鄰掃查線的間距往往（）探頭直徑。

探頭移動過程中同時作（）轉(zhuǎn)動，稱為擺動掃查。

探傷中探頭晶片尺寸增加，相應(yīng)的（）對探傷有利。

由于各種試件的結(jié)構(gòu)、質(zhì)量要求不同，可能缺陷的（）不一樣，因而探測面可能是試件的所有面，也可能是其中的幾個面，甚至只有一個可探測面。

核對軌頭剝離層下的傷損一般采用（）。

超聲波探傷探頭的型式一般有（）等。

根據(jù)接頭鋼軌下顎裂紋形成的原因，可知其具有從（）逐步擴(kuò)展的特點。

金相也可通過掃描電子顯微鏡、透射電子顯微鏡直接獲得，他們主要是用來觀察材料的位錯，放大倍數(shù)一般為（）倍。