A.與試件熱處理相同的材料
B.與試件治金組織相似的材料
C.與試件相同厚度的材料
D.與試件材料規(guī)范,等級(jí),熱處理相同的材料
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A.在任何情況下都位于探頭中心正下方
B.位于探頭中心左下方
C.位于探頭中心右下方
D.未必位于探頭中心正下方
A.耦合不良
B.存在與聲束不垂直的缺陷;
C.存在與始脈沖不能分開(kāi)的近表面缺陷
D.以上都是
A.優(yōu)于
B.低于
C.等于
A.探頭種類(lèi)
B.探頭尺寸
C.探頭頻率
D.以上都是
A.缺陷檢出能力
B.材料衰減
C.指向性
D.分辨率
E.近場(chǎng)長(zhǎng)度
F.以上都是
最新試題
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度,即()。
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射,這種波是()。
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí),下面敘述中()是錯(cuò)誤的。
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí),適用的工件厚度為()。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè),儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。
板波檢測(cè)可以發(fā)現(xiàn)(),其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。
超聲檢測(cè)對(duì)缺陷定位時(shí),()不是影響缺陷定位的主要因素。
用橫波斜探頭檢測(cè),找到缺陷最大回波后,探頭所在截面及()可以確定缺陷位置。
超聲檢測(cè)儀盲區(qū)是指()。