A.探頭種類
B.探頭尺寸
C.探頭頻率
D.以上都是
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A.缺陷檢出能力
B.材料衰減
C.指向性
D.分辨率
E.近場(chǎng)長(zhǎng)度
F.以上都是
A.近場(chǎng)效應(yīng)影響
B.儀器的阻塞時(shí)間影響
C.探頭的始波占寬影響
D.以上都是
A.等于大于5MHz的工作頻率
B.透聲性好粘度大的耦合劑
C.晶片尺寸小的探頭
D.以上全部
A.前者優(yōu)于后者
B.后者優(yōu)于前者
C.前者與后者相同
D.兩者沒有規(guī)律
A.底波降低或消失
B.較高的雜波水平
C.超聲波的穿透率降低
D.以上都是
最新試題
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法，下面說法錯(cuò)誤的是（）。
（）是影響缺陷定量的因素。
（）可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè)，儀器顯示缺陷的聲程為S，則缺陷的水平距離l為（）。
用橫波斜探頭檢測(cè)，找到缺陷最大回波后，探頭所在截面及（）可以確定缺陷位置。
縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí)，在第一次底波之后，還有2個(gè)特定位置的反射波，這種波是（）。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭，缺陷回波高度降低一半時(shí)，探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn)，兩端點(diǎn)之間的直線長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱為（）。
檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低，（）。
探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng)，超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為（）。
單探頭法容易檢出（）。