A.耦合不良
B.存在與聲束不垂直的缺陷;
C.存在與始脈沖不能分開的近表面缺陷
D.以上都是
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.優(yōu)于
B.低于
C.等于
A.探頭種類
B.探頭尺寸
C.探頭頻率
D.以上都是
A.缺陷檢出能力
B.材料衰減
C.指向性
D.分辨率
E.近場(chǎng)長(zhǎng)度
F.以上都是
A.近場(chǎng)效應(yīng)影響
B.儀器的阻塞時(shí)間影響
C.探頭的始波占寬影響
D.以上都是
A.等于大于5MHz的工作頻率
B.透聲性好粘度大的耦合劑
C.晶片尺寸小的探頭
D.以上全部
最新試題
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度,即()。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小,操作方便,適用于()的工件。
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
()可以對(duì)管路、管道進(jìn)行長(zhǎng)距離檢測(cè)。
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí),下面敘述中()是錯(cuò)誤的。
超聲檢測(cè)系統(tǒng)的靈敏度余量()。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí),需要進(jìn)行傳輸修正。
調(diào)整檢測(cè)靈敏度的目的在于檢測(cè)出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對(duì)缺陷進(jìn)行()。
縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí),在第一次底波之后,還有2個(gè)特定位置的反射波,這種波是()。
()是影響缺陷定量的因素。