單項選擇題超聲波檢驗中，當探傷面比較粗糙時，宜選用（）
A.較低頻率探頭
B.較粘的耦合劑
C.軟保護膜探頭
D.以上都是
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1.單項選擇題鍛件中粗大晶粒通常會引起（）
A.底反射降低或消失
B.較高的“雜波”或噪聲顯示
C.穿透力降低
D.以上都是
2.單項選擇題在檢驗工件時若無缺陷顯示，則操作者應(yīng)注意底面回波，若底面回波的高度劇烈下降，引起這種情況的原因可能是（）
A.大而平的缺陷與入射聲束取向不良
B.疏松
C.晶粒粗大
D.以上都是
3.單項選擇題在接觸法超聲波縱波垂直入射探傷中，出現(xiàn)底波幅度降低甚至消失的原因可能是（）
A.耦合不良
B.存在與聲束不垂直的缺陷
C.存在被始波遮蔽的近表面缺陷
D.以上都是
5.單項選擇題在一定的檢測靈敏度下，缺陷回波幅度高低取決于（）
A.缺陷尺寸
B.缺陷方位
C.缺陷類型
D.以上都是
最新試題
直接接觸法是指探頭與工件之間（）。
題型：單項選擇題
當調(diào)節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時，需要進行傳輸修正。
題型：單項選擇題
超聲波儀時基線的水平刻度與實際聲程成正比的程度，即（）。
題型：單項選擇題
實際檢測中，為了提高掃查速度而又不引起漏檢，常將檢測靈敏度適當提高，這種在檢測靈敏度基礎(chǔ)上適當提高后的靈敏度叫做（）。
題型：單項選擇題
用折射角β的斜探頭進行檢測，儀器顯示缺陷的聲程為S，則缺陷的水平距離l為（）。
題型：單項選擇題
利用底波計算法校準靈敏度時，下面敘述中（）是錯誤的。
題型：單項選擇題
（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
題型：單項選擇題
移動探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動探頭，缺陷回波高度降低一半時，探頭中心軸線所對應(yīng)的位置即為指示長度的端點，兩端點之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為（）。
題型：單項選擇題
底波計算法是利用（）與平底孔反射回波相差的分貝（dB）值進行靈敏度校準。
題型：單項選擇題
檢測靈敏度太高和太低對檢測都不利。靈敏度太低，（）。
題型：單項選擇題